太陽能電池是太陽能發(fā)電系統(tǒng)中的基礎(chǔ)組件，普遍由晶體硅制成，晶體硅微裂紋產(chǎn)生的電池破損會嚴重影響模塊的性能。

組件EL檢測是根據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對組件進行缺陷檢測，可在非常短的時間內(nèi)，準(zhǔn)確檢測各種缺陷和老化情況，是檢查晶體硅太陽能硅片質(zhì)量的重要評估工具。

 檢測項目 

電池片內(nèi)部缺陷檢測，裂片、黑斑、短路、斷柵、漏焊、斷焊等

 解決方案 

百萬聚焦鏡頭，高分辨率紅外相機+HV AI深度學(xué)習(xí)缺陷檢測技術(shù)

 檢測結(jié)果 

清晰成像，檢測精確，使缺陷判定的正確率大大提升